情報主導の時代において、強力なハイパフォーマンスコンピューティング（HPC）プラットフォームは、大量のデータを処理して、その価値を実現しています。HPCソリューションは絶えず進化し、人類を前進させるために必要な洞察力を生み出しています。成功するには、最大の稼働時間を実現するために、メモリサブシステムの信頼性を最適化することが重要です。
Zefrとは、OEMのオリジナルメモリモジュールまたはSMART Modularで構築されたメモリモジュールで実行されるスクリーニングプロセスです。これは、要求の厳しいワークロードに対して、超高信頼性を実現することを目的としています。
ワークロード駆動型コンピューティングへの要求に応えて、強力なハイパフォーマンスコンピューティング（HPC）プラットフォームは、大量のデータを処理して、その価値を実現しています。このトレンドを実現するには、稼働時間を最大化することが不可欠です。
現在の百万個当たりの不良部品率（Current Defective Parts per Million, DPPM）では、信頼性は不十分であり、次の現象を引き起こしています。
● プラットフォームの起動が遅延する
● 保守費用が増大する
● システムの歩留まりが低下する
Zefrメモリは、潜在的な欠陥のあるメモリモジュールを除外するために徹底的に処理されています。Zefrプロセスは、5つの主要なテスト要素を組み合わせたプロセスです。
これらのシナリオでは、ダウンタイムが発生し、数千ドルの費用がかかります。
(1) ROIを向上させる
(2) システムの歩留まりを最大化する
(3) 「洞察までにかかる時間」を加速する
HPCシステムインテグレーターは、標準メモリとZefrメモリを使用して、同一システムを構築しました。
| SMART Zefr ZDIMM Brochure_2024 | 07/04/2024 |
| SMART Zefr Memory for Enterprise Applications | 06/26/2024 |
