In unserem Informationszeitalter verarbeiten HPC- (High Performance Computing) Plattformen enorme Datenmengen, um Erkenntnissen zu gewinnen, die helfen die Menschheit weiter voranzubringen, werden die HPC-Lösungen ständig weiterentwickelt. Die Optimierung der Zuverlässigkeit des Arbeitsspeichersubsystems für maximale Betriebszeit ist entscheidend für den Erfolg.
Zefr ist ein Screening-Verfahren, das bei OEM-Original-Speichermodulen oder SMART Modular-Speichermodulen durchgeführt wird, um eine extrem hohe Zuverlässigkeit für anspruchsvolle Workloads zu gewährleisten.
Als Antwort auf Workload-getriebenes Computing verarbeiten HPC- (, High Performance Computing) Plattformen enorme Datenmengen. Dieser Trend erfordert eine maximale Betriebszeit.
Der aktuelle Anteil defekter Teile pro Million (Defective Parts per Million, DPPM) ist nicht niedrig genug, und trägt bei zu einer:
Zefr-Arbeitsspeicher werden umfassend gescreent, um fehleranfällige Speichermodule herauszufiltern. Der Zefr-Prozess kombiniert fünf wesentliche Testkomponenten.
Diese Szenarien führen zu Ausfallzeiten, die Tausende von Geld kosten.
(1) ROI erhöhen
(2) Systemertragsrate maximieren
(3) „Time-to-Insight“ beschleunigen
Ein HPC-Systemintegrator integrierte identische Systeme mit standard- und einem Zefr-Arbeitsspeicher.
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| M-WP015 Zefr High Reliability Memory_White Paper | 10/11/2024 |
| SMART ZDIMMs for AI and ML | 12/13/2024 |
| SMART Zefr ZDIMM Brochure_2024 | 12/13/2024 |
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