ZDIMMs (Zefr-Speichermodul) werden streng getestet, um über 90% der Speicherzuverlässigkeitsfehler zu beseitigen, was eine maximale Anwendungsverfügbarkeit gewährleistet und die Zuverlässigkeit des Speichersubsystems optimiert.

ZDIMMs nutzen den proprietären Zefr™-Prüfprozess von SMART und garantieren so die branchenweit höchsten Betriebszeiten und Zuverlässigkeit.

ZDIMMs sind für Rechenzentren, High-Performance-Computing (HPC)-Plattformen und andere Rechenumgebungen konzipiert, die große Speicheranwendungen mit hohen Zuverlässigkeitsanforderungen ausführen.