單粒子翻轉 SEU（Single-Event-Upset）緩解技術大幅降低維護成本，有效提升全天候關鍵應用最長運行時間
台灣新北市，2024年 9 月 17 日 - 隸屬SGH (Nasdaq: SGH) 控股集團，全球專業記憶體與儲存解決方案領導者 SMART Modular 世邁科技 (“SMART”) 宣佈推出獨家SEU緩解技術，用來減輕單粒子翻轉 （Single-Event-Upset）對高可靠性快閃記憶體系統造成的損害性影響。SMART 的 MP3000 NVMe SSD 採用SEU 緩解技術，將每百萬單位的年故障率從高達 17,500 次降至不到 10 次，從而大幅減少數十萬美元的潛在維護成本，並幫助確保數百小時的不間斷運行時間，對於難以維修的遠端部署極具效益。
SMART Modular世邁科技 Specialty Memory副總裁 Satya Iyer表示，「我們符合業界標準的 SATA 和 PCIe NVMe 開機碟能從單粒子翻轉導致的軟錯誤中恢復，將年故障率降低高達 99.7%。對於部署在偏遠及難以提供維修服務地點的網通和電信設備來說，SEU 緩解技術提供從軟錯誤中恢復的能力，對於要求24/7全天候不間斷運行的系統至關重要 。」
SMART的MP3000 PCIe/NVMe和 ME2 SATA產品系列搭載 SEU緩解技術，有効防止系統在實際應用環境中發生故障。
SEU 是數位系統中的「位元狀態」無意間發生的變化，指的是當高能中子或 α 粒子隨機撞擊導致記憶體位元（邏輯元件）翻轉原本狀態的現象。這些高能粒子可能來自地面或大氣層外的來源，例如宇宙射線。SEU 會導致數位系統運行異常，甚至會造成整個系統崩潰。因此，若能直接透過SSD 解決這些錯誤或異常，無需重啟系統即可恢復運作，這對於維持系統運行的可靠性和持續性將發揮關鍵作用。
SEU 緩解技術比其他單靠 ECC 錯誤校正技術修復內部SRAM的解決方案更有效，讓SSD 不僅能在無需重啟主機的情況下輕鬆進行自身重啟，還能處理內部其他元件潛在的位元翻轉現象，額外減少10% 故障的發生。SMART 搭載SEU 緩解技術的開機碟專為要求最長運行時間的應用而設計，提供60GB 至 1.92TB儲存容量，以及商規和工業寬溫規格。
ME2 SATA M.2 和 mSATA SSD 採用 SEU 緩解技術，提供 60GB 至 1.92TB 的儲存容量，支援商規（0°C 至 70°C）和工規寬溫（-40°C 至 85°C）操作溫度。M.2 2280 更搭載SafeDATA™斷電資料保護技術。
MP3000 NVMe PCIe SSD 採用 SEU 緩解技術，提供M.2 2280、M.2 22110 和 E1.S外形規格， 以及80GB 至 1.92TB 的儲存容量，支援商規（0°C 至 70°C）和工規寬溫（-40°C 至 85°C）操作溫度，同時也搭載SafeDATA™斷電資料保護技術。欲瞭解更多產品資料，請上SMART官網查詢。
* 此圖像化的 “S”和 “SMART”，“SMART Modular Technologies”是 SMART Modular Technologies, Inc. 的商標。所有其他商標和註冊商標所有權為各自所有。
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關於 SMART Modular 世邁科技
成立超過三十年，SMART Modular 世邁科技致力於協助全球客戶設計、開發並提供高階封裝的特殊型記憶體解決方案來實現高性能運算。 SMART Modular 世邁科技提供健全的產品組合，從最尖端的技術到標準型和傳統 DRAM 記憶體模組和快閃記憶體產品，我們皆可提供標準型、強固型和客製化的記憶體和儲存解決方案，來滿足高成長市場對多樣化應用的需求。更多資訊請參考: www.smartm.com/ch
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